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난치성 뇌전증 유발 돌연변이…정확히 진단

약물 치료가 쉽지 않은 난치성 뇌전증의 진단 정확도를 대폭 높일 수 있는 기술이 개발됐습니다.

KAIST 연구팀은 난치성 뇌전증 환자의 뇌 조직을 분석해, 돌연변이가 자주 발생하는 유전자 8개를 확인하고 이들 유전자를 최대 100%의 정확도로 진단하는 데 성공했다고 밝혔습니다.

뇌 조직 내 돌연변이로 인해 발생하는 난치성 뇌전증의 진단 정확도는 현재 10∼30%에 불과한 것으로 알려졌습니다.

연구팀은 이번에 개발한 기술이 상대적으로 적은 비용으로 유전자 진단을 할 수 있는 만큼 뇌전증으로 고통받는 환자들에게 도움이 되길 바란다고 말했습니다.

이혜리 [leehr2016@ytn.co.kr]
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