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140년 한계 뛰어넘은 차세대 반도체 분석 기술 개발

카이스트 신소재공학과 신병하 교수와 IBM 연구소 오키 구나완 박사 공동 연구팀이 기존 반도체 측정법인 '홀 효과'의 한계를 보완할 새로운 반도체 분석 기술을 개발했습니다.

140년 전 에드윈 홀이 발견한 '홀 효과'는 반도체에 전류와 자기장을 가하면 자기장과 전류 모두에 기전력이 발생하는 효과로 지금까지 전 세계 반도체 연구기관에서 널리 사용하고 있는 측정 방식입니다.

하지만 기존 홀 효과 측정법은 태양전지 등의 구동원리를 분석하는 데 필요한 '소수 운반체'에 대한 정보는 얻기 어렵다는 한계가 있었습니다.

연구팀은 이러한 '홀 효과'의 한계를 극복하고 모든 분야에 활용할 수 있는 새로운 개념의 분석기술을 개발했습니다.

연구팀은 이번 연구결과가 태양 전지와 발광 다이오드 등 광전자 분야 신소재 개발에 기여할 것으로 기대했습니다.

이번 연구 결과는 권위 있는 국제 학술지 '네이처최신호에 실렸습니다.

한정호 [jhhan@ytn.co.kr]
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