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수은 오염 10분 내 확인…종이 칩 개발

수은 오염 여부를 현장에서 손쉽게 확인할 수 있는 고감도 종이 칩이 개발됐습니다.

한국기초과학지원연구원은 수은 오염 여부를 10분 안에 진단할 수 있는 칩을 개발했다고 밝혔는데요.

연구팀은 저렴한 종이 표면에 수은과 반응하는 금 나노 입자를 덧입혀 적은 양의 시료도 검출해 낼 수 있도록 구현하는 데 성공했습니다.

현재 수은 검출이 값비싼 분석 장비에 의존하고 있는 만큼 환경 분야에서 유용하게 활용될 수 있을 것으로 기대했습니다.

이혜리 [leehr2016@ytn.co.kr]
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